Nastro Replica per la misurazione di profili di superficie trattati con sabbiatura. Inserendo il nastro replica TQC sulla superficie e strofinando su di esso, possono essere rilevati sia la Rt (rugosità totale) sia la profondità della rugosità del profilo, grazie ad uno spessimetro per film.
1. Nastro Replica TQC è composto da uno strato di schiuma comprimibile, apposto su un substrato di poliestere incomprimibile.
2.Quando viene premuto contro una superficie ruvida/abrasiva (acciaio), la schiuma collassa acquisendo un’impressione della superficie.
3.Posizionando il nastro compresso tra i cuscinetti del calibro di spessore micrometrico SP1570, e sottraendo il contributo del substrato incomprimibile (50 micrometri o 0,002 pollici), si ha la misura del profilo di superficie
